用鍍層測厚儀測量的準確需要什麽條件？

用鍍層測厚儀測量的準確需要什麽條件

基體金屬特性

對於磁性方法，標準片的基體金屬的磁性和表麵粗糙度，應當與試件基體金屬的磁性和表麵粗糙度相似。

對於渦流方法，標準片基體金屬的電性質，應當與試件基體金屬的電性質相似。

基體金屬厚度

檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度，無損黄色网站草莓视频資源網 如果沒有，可采用某種方法進行校準。

邊緣效應

不應在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內轉角等處進行測量。

曲率

不應在試件的彎曲表麵上測量。

讀數次數

通常由於儀器的每次讀數並不完全相同，因此必須在每一測量麵積內取幾個讀數。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的麵積內進行多次測量，表麵粗造時更應如此。

表麵清潔度

測量前，應清除表麵上的任何附著物質，如塵土、油脂及腐蝕產物等，但不要除去任何覆蓋層物質。